Baumann, M. ; Stark, R. W. (2010)
Dual frequency atomic force microscopy on charged surfaces.
In: Ultramicroscopy, 110
doi: 10.1016/j.ultramic.2010.02.013
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2010 |
| Autor(en): | Baumann, M. ; Stark, R. W. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Dual frequency atomic force microscopy on charged surfaces |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 4 Juni 2010 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Ultramicroscopy |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 110 |
| DOI: | 10.1016/j.ultramic.2010.02.013 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Physics of Surfaces Exzellenzinitiative Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster Zentrale Einrichtungen Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster > Center of Smart Interfaces (CSI) ?? fb99_csi~fg5 ?? 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 04 Jun 2010 09:38 |
| Letzte Änderung: | 26 Jul 2016 13:35 |
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