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Dual frequency atomic force microscopy on charged surfaces

Baumann, M. ; Stark, R. W. :
Dual frequency atomic force microscopy on charged surfaces.
In: Ultramicroscopy, 110 pp. 578-581.
[Artikel], (2010)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2010
Autor(en): Baumann, M. ; Stark, R. W.
Titel: Dual frequency atomic force microscopy on charged surfaces
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Ultramicroscopy
Band: 110
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Physics of Surfaces
Exzellenzinitiative
Exzellenzinitiative > Exzellencluster
Zentrale Einrichtungen
Exzellenzinitiative > Exzellencluster > Center of Smart Interfaces (CSI)
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11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
Hinterlegungsdatum: 04 Jun 2010 09:38
ID-Nummer: 10.1016/j.ultramic.2010.02.013
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