Baumann, M. ; Stark, R. W.
:
Dual frequency atomic force microscopy on charged surfaces.
In:
Ultramicroscopy, 110
pp. 578-581.
[Artikel], (2010)
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2010 |
| Autor(en): | Baumann, M. ; Stark, R. W. |
| Titel: | Dual frequency atomic force microscopy on charged surfaces |
| Sprache: | Englisch |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Ultramicroscopy |
| Band: | 110 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Physics of Surfaces Exzellenzinitiative Exzellenzinitiative > Exzellencluster Zentrale Einrichtungen Exzellenzinitiative > Exzellencluster > Center of Smart Interfaces (CSI) ?? fb99_csi~fg5 ?? 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft |
| Hinterlegungsdatum: | 04 Jun 2010 09:38 |
| ID-Nummer: | 10.1016/j.ultramic.2010.02.013 |
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