Bichlmeier, S. ; Janssens, K. ; Heckel, J. ; Hoffmann, Peter ; Ortner, H. M. (2002)
Comparative material characterization of historical and industrial samples by using a compact micro-XRF spectrometer.
In: X-Ray Spectrometry, 31 (1)
Artikel, Bibliographie
URL / URN: http://dx.doi.org/10.1002/xrs.563
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2002 |
| Autor(en): | Bichlmeier, S. ; Janssens, K. ; Heckel, J. ; Hoffmann, Peter ; Ortner, H. M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Comparative material characterization of historical and industrial samples by using a compact micro-XRF spectrometer |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2002 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | X-Ray Spectrometry |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 31 |
| (Heft-)Nummer: | 1 |
| URL / URN: | http://dx.doi.org/10.1002/xrs.563 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Materialanalytik |
| Hinterlegungsdatum: | 03 Feb 2010 13:23 |
| Letzte Änderung: | 26 Aug 2018 21:25 |
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