Kaiser, G. ; Meyer, A. ; Friess, M. ; Riedel, R. ; Harris, M. ; Jacob, E. ; Tölg, G. (1995)
Critical comparison of ICP-OES, XRF, and fluorine volatilization-FTIR spectrometry for the reliable determination of the silicon main constituent in ceramic materials.
In: Fresenius' journal of analystical chemistry, 352 (3)
doi: 10.1007/BF00322228
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1995 |
| Autor(en): | Kaiser, G. ; Meyer, A. ; Friess, M. ; Riedel, R. ; Harris, M. ; Jacob, E. ; Tölg, G. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Critical comparison of ICP-OES, XRF, and fluorine volatilization-FTIR spectrometry for the reliable determination of the silicon main constituent in ceramic materials |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1995 |
| Verlag: | Springer |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Fresenius' journal of analystical chemistry |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 352 |
| (Heft-)Nummer: | 3 |
| DOI: | 10.1007/BF00322228 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Disperse Feststoffe |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 15:58 |
| Letzte Änderung: | 18 Dez 2023 07:31 |
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