Kimmel, Giora ; Politi, L. ; Wieder, Thomas (1994)
Characterization of (Ti,Al)N Films by XRD and XRF.
In: Advances of X-Ray Analysis, 37
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1994 |
| Autor(en): | Kimmel, Giora ; Politi, L. ; Wieder, Thomas |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Characterization of (Ti,Al)N Films by XRD and XRF |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 11 September 1994 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Advances of X-Ray Analysis |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 37 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 14 Sep 2009 06:53 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:23 |
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