Valizadeh, Pouya ; Pavlidis, Dimitris (2006)
Low-frequency noise-based degradation prediction of AlxGa1-xN/GaN MODFETs.
In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 6
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2006 |
| Autor(en): | Valizadeh, Pouya ; Pavlidis, Dimitris |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Low-frequency noise-based degradation prediction of AlxGa1-xN/GaN MODFETs |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2006 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | IEEE Transactions on Device and Materials Reliability |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 6 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:26 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:24 |
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