Valizadeh, P. ; Pavlidis, D. (2005)
Effects of RF and DC stress on AlGaN/GaN MODFETs : a low-frequency noise based investigation.
In: IEEE Transactions on Materials and Device Reliability, 5
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2005 |
| Autor(en): | Valizadeh, P. ; Pavlidis, D. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Effects of RF and DC stress on AlGaN/GaN MODFETs : a low-frequency noise based investigation |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2005 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | IEEE Transactions on Materials and Device Reliability |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 5 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:23 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:25 |
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