| Typ des Eintrags: |
Konferenzveröffentlichung
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| Erschienen: |
2004 |
| Autor(en): |
Mottet, Bastian ; Sydlo, Cezary ; Kögel, Benjamin ; Robillard, Q. de ; Cojocari, Oleg ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
The impact of process optimisation on planar THz-Schottky device reliability |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
2004 |
| Ort: |
Piscataway, NJ |
| Verlag: |
IEEE Service Center |
| Reihe: |
2004 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 42nd annual ; Phoenix, Arizona, April 25 - 29, 2004 / sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society.- Piscataway, NJ : IEEE Service Center, 2004.- XII, 7 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: |
20 Nov 2008 08:21 |
| Letzte Änderung: |
14 Feb 2019 10:47 |
| PPN: |
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| Export: |
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