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Accuracy of film thickness determination in electron probe microanalysis

Möller, Andreas ; Weinbruch, Stephan ; Stadermann, F.J. ; Ortner, H.-M. ; Neubeck, K. ; Balogh, Adam G. ; Hahn, H. :
Accuracy of film thickness determination in electron probe microanalysis.
In: Microchimica Acta. 119 (1995), S. 41-47
[Artikel], (1995)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1995
Autor(en): Möller, Andreas ; Weinbruch, Stephan ; Stadermann, F.J. ; Ortner, H.-M. ; Neubeck, K. ; Balogh, Adam G. ; Hahn, H.
Titel: Accuracy of film thickness determination in electron probe microanalysis
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Microchimica Acta. 119 (1995), S. 41-47
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Umweltmineralogie
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften)
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:56
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