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Accuracy of film thickness determination in electron probe microanalysis

Möller, Andreas ; Weinbruch, Stephan ; Stadermann, Frank J. ; Ortner, Hugo M. ; Neubeck, Klaus ; Balogh, Adam G. ; Hahn, Horst (1995)
Accuracy of film thickness determination in electron probe microanalysis.
In: Microchimica acta, 119
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1995
Autor(en): Möller, Andreas ; Weinbruch, Stephan ; Stadermann, Frank J. ; Ortner, Hugo M. ; Neubeck, Klaus ; Balogh, Adam G. ; Hahn, Horst
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Accuracy of film thickness determination in electron probe microanalysis
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 14 Juni 1995
Verlag: Springer-Verlag
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Microchimica acta
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 119
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Umweltmineralogie
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Materialanalytik
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften)
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:56
Letzte Änderung: 23 Jan 2019 08:12
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