Mottet, Bastian ; Sydlo, Cezary ; Hartnagel, Hans L. (2000)
Pulsed electrical stress techniques for the detection of non-thermal lifetime-problems with semiconductor devices and their IC's.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Mottet, Bastian ; Sydlo, Cezary ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Pulsed electrical stress techniques for the detection of non-thermal lifetime-problems with semiconductor devices and their IC's |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2000 |
| Reihe: | GAAS 2000: Gallium Arsenide and other Semiconductor Application Symposium <2000, Paris>; Symposium Proceedings. S. 39-43 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:30 |
| Letzte Änderung: | 14 Feb 2019 10:47 |
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