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Structural characterisation of 2D- and 3D-nanostructures by means of High Resolution Electron Microscopy

Buschmann, Veronique (2008)
Structural characterisation of 2D- and 3D-nanostructures by means of High Resolution Electron Microscopy.
Technische Universität Darmstadt
Dissertation, Bibliographie

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 2008
Autor(en): Buschmann, Veronique
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Structural characterisation of 2D- and 3D-nanostructures by means of High Resolution Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 19 November 2008
Ort: Darmstadt
Verlag: Technische Univ. Darmstadt
Kollation: 146 S
Auflage: Darmstadt: 1998. IV,146 S
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 05 Fachbereich Physik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:56
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 08:31
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