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Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs

Schepp, Oliver (1998)
Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs.
Technische Universität Darmstadt
Dissertation, Bibliographie

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 1998
Autor(en): Schepp, Oliver
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs
Sprache: Deutsch
Publikationsjahr: 1998
Ort: Düsseldorf
Verlag: VDI-Verl
Band einer Reihe: 282
Kollation: XVII,174 S
Auflage: Düsseldorf: VDI-Verl., 1998. XVII,174 S
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:28
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 08:52
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