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Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs

Schepp, Oliver (1998):
Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs.
282, Düsseldorf: VDI-Verl., 1998. XVII,174 S, Düsseldorf, VDI-Verl, TU Darmstadt,
[Ph.D. Thesis]

Item Type: Ph.D. Thesis
Erschienen: 1998
Creators: Schepp, Oliver
Title: Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs
Language: German
Volume: 282
Place of Publication: Düsseldorf
Publisher: VDI-Verl
Edition: Düsseldorf: VDI-Verl., 1998. XVII,174 S
Collation: XVII,174 S
Divisions: 18 Department of Electrical Engineering and Information Technology
Date Deposited: 19 Nov 2008 16:28
License: [undefiniert]
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