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Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs

Schepp, Oliver :
Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs.
VDI-Verl , Düsseldorf
[Dissertation]

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 1998
Autor(en): Schepp, Oliver
Titel: Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs
Sprache: Deutsch
Band: 282
Ort: Düsseldorf
Verlag: VDI-Verl
Edition: Düsseldorf: VDI-Verl., 1998. XVII,174 S
Kollation: XVII,174 S
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:28
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