Gottwald, P. ; Kräutle, H. ; Szentpali, B. ; Hartnagel, H. L. (2001)
Results on passivation of InP by photo-CVD SiO2 and SiNx obtained by using the low-frequency noise measurement technique.
In: Fluctuation and noise letters, 1
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2001 |
| Autor(en): | Gottwald, P. ; Kräutle, H. ; Szentpali, B. ; Hartnagel, H. L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Results on passivation of InP by photo-CVD SiO2 and SiNx obtained by using the low-frequency noise measurement technique |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2001 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Fluctuation and noise letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 1 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:28 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:27 |
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