Biber, S. ; Cojocari, Oleg ; Rehm, G. ; Mottet, Bastian ; Schmidt, L.-P. ; Hartnagel, Hans L. (2004)
A novel system for systematic IF noise and DC characterization of THz Schottky diodes.
In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 53 (2)
doi: 10.1109/TIM.2003.820487
Artikel, Bibliographie
URL / URN: https://ieeexplore.ieee.org/document/1284895
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2004 |
| Autor(en): | Biber, S. ; Cojocari, Oleg ; Rehm, G. ; Mottet, Bastian ; Schmidt, L.-P. ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | A novel system for systematic IF noise and DC characterization of THz Schottky diodes |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2004 |
| Verlag: | IEEE |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 53 |
| (Heft-)Nummer: | 2 |
| DOI: | 10.1109/TIM.2003.820487 |
| URL / URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/1284895 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:27 |
| Letzte Änderung: | 09 Okt 2020 09:00 |
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