Wischmeyer, Frank ; Horn, ; Niemann, E. ; Hartnagel, H. L. (1996)
Rastertunnelmikroskopie als Methode zur Untersuchung des Interfaces zwischen CVD-gewachsenem 3C-SiC und Silizium.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 1996 |
| Autor(en): | Wischmeyer, Frank ; Horn, ; Niemann, E. ; Hartnagel, H. L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Rastertunnelmikroskopie als Methode zur Untersuchung des Interfaces zwischen CVD-gewachsenem 3C-SiC und Silizium |
| Sprache: | Deutsch |
| Publikationsjahr: | 1996 |
| Reihe: | Deutsche Physikalische Gesellschaft: Frühjahrstagung <1996, Regensburg>; Tagungsbd |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:26 |
| Letzte Änderung: | 14 Feb 2019 10:48 |
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