Schuessler, M. ; Mottet, B. ; Sydlo, C. ; Krozer, V. ; Hartnagel, H. L. ; Jakoby, Rolf (2000)
Model for the decrease in HBT collector current under DC stress based on recombination enhanced defect reactions.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Schuessler, M. ; Mottet, B. ; Sydlo, C. ; Krozer, V. ; Hartnagel, H. L. ; Jakoby, Rolf |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Model for the decrease in HBT collector current under DC stress based on recombination enhanced defect reactions |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2000 |
| Ort: | Oxford |
| Verlag: | Pergamon |
| Reihe: | ESREF 2000: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis <11, 2000, Dresden>: Proceedings. S. 1733-1738. - Oxford: Pergamon, 2000 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > Mikrowellentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:25 |
| Letzte Änderung: | 11 Dez 2019 07:29 |
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