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Experimental evaluation of on-chip measurement of charge transfer by X-rays

Lal, K. ; Hartnagel, H. L. ; Goswami, N. ; Thoma, P. :
Experimental evaluation of on-chip measurement of charge transfer by X-rays.
In: Electronics letters, 36
[Artikel], (2000)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2000
Autor(en): Lal, K. ; Hartnagel, H. L. ; Goswami, N. ; Thoma, P.
Titel: Experimental evaluation of on-chip measurement of charge transfer by X-rays
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Electronics letters
Band: 36
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:25
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