Lal, K. ; Hartnagel, H. L. ; Goswami, N. ; Thoma, P. (2000)
Experimental evaluation of on-chip measurement of charge transfer by X-rays.
In: Electronics letters, 36
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Lal, K. ; Hartnagel, H. L. ; Goswami, N. ; Thoma, P. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Experimental evaluation of on-chip measurement of charge transfer by X-rays |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2000 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Electronics letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 36 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:25 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:28 |
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