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Influence of reactive ion etching on the microwave trap noise generated in Pt/n-GaAs Schottky diode interfaces

Miranda-Pantoja, J. M. ; Lin, C.-I. ; Brandt, M. ; Rodriguez-Girones, M. ; Hartnagel, H. L. ; Sebastian, J. L. (2000)
Influence of reactive ion etching on the microwave trap noise generated in Pt/n-GaAs Schottky diode interfaces.
In: IEEE Electron device letters, 21
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2000
Autor(en): Miranda-Pantoja, J. M. ; Lin, C.-I. ; Brandt, M. ; Rodriguez-Girones, M. ; Hartnagel, H. L. ; Sebastian, J. L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Influence of reactive ion etching on the microwave trap noise generated in Pt/n-GaAs Schottky diode interfaces
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2000
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: IEEE Electron device letters
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 21
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:25
Letzte Änderung: 20 Feb 2020 13:28
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