Killat, Dirk ; Kluge, Johannes von ; Umbach, Frank ; Langheinrich, Werner ; Schmitz, R.
Hrsg.: Baccerani, Giorgio (1996)
Sensitivity and noise of MOS magnetic field effect transistors.
26th European Solid State Device Research Conference. Bologna, Italy (09.09.1996-11.09.1996)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 1996 |
| Herausgeber: | Baccerani, Giorgio |
| Autor(en): | Killat, Dirk ; Kluge, Johannes von ; Umbach, Frank ; Langheinrich, Werner ; Schmitz, R. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Sensitivity and noise of MOS magnetic field effect transistors |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1996 |
| Ort: | Gif-sur-Yvette |
| Verlag: | Ed. Frontieres |
| Buchtitel: | ESSDERC '96: Proceedings of the 26th European Solid State Device Research Conference |
| Veranstaltungstitel: | 26th European Solid State Device Research Conference |
| Veranstaltungsort: | Bologna, Italy |
| Veranstaltungsdatum: | 09.09.1996-11.09.1996 |
| URL / URN: | https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=543... |
| Zugehörige Links: | |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 15:55 |
| Letzte Änderung: | 17 Dez 2024 14:51 |
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