Huang, Binxiang ; Erhart, Paul ; Yang, Tongqing ; Klein, Andreas (2023)
Electrostatic boundary conditions and (electro)chemical interface stability.
In: Advanced Materials Interfaces, 10 (21)
doi: 10.1002/admi.202300332
Artikel, Bibliographie
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Kurzbeschreibung (Abstract)
Interface stability is a key factor for stable operation of electronic and electrochemical devices. This contribution introduces an approach for the operando analysis of interfaces using photoelectron spectroscopy employing a solid oxide electrochemical cell. The combined chemical and electronic information provided by the experiment reveals that not only chemical but also electrostatic boundary conditions are essential for interface stability. The approach is demonstrated using (anti‐)ferroelectric (Pb,La)(Zr,Sn,Ti)O₃ dielectrics.
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2023 |
| Autor(en): | Huang, Binxiang ; Erhart, Paul ; Yang, Tongqing ; Klein, Andreas |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Electrostatic boundary conditions and (electro)chemical interface stability |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2023 |
| Ort: | Weinheim |
| Verlag: | Wiley-VCH |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Advanced Materials Interfaces |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 10 |
| (Heft-)Nummer: | 21 |
| Kollation: | 6 Seiten |
| DOI: | 10.1002/admi.202300332 |
| Zugehörige Links: | |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | Interface stability is a key factor for stable operation of electronic and electrochemical devices. This contribution introduces an approach for the operando analysis of interfaces using photoelectron spectroscopy employing a solid oxide electrochemical cell. The combined chemical and electronic information provided by the experiment reveals that not only chemical but also electrostatic boundary conditions are essential for interface stability. The approach is demonstrated using (anti‐)ferroelectric (Pb,La)(Zr,Sn,Ti)O₃ dielectrics. |
| Freie Schlagworte: | anti‐ferroelectrics, electrochemical cells, interface stability, operando, X‐ray photoelectron spectroscopy |
| ID-Nummer: | Artikel-ID: 2300332 |
| Sachgruppe der Dewey Dezimalklassifikatin (DDC): | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 660 Technische Chemie |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenstruktur von Materialien LOEWE LOEWE > LOEWE-Schwerpunkte LOEWE > LOEWE-Schwerpunkte > FLAME - Fermi Level Engineering Antiferroelektrischer Materialien für Energiespeicher und Isolatoren |
| Hinterlegungsdatum: | 12 Feb 2024 07:34 |
| Letzte Änderung: | 12 Feb 2024 09:47 |
| PPN: | 515503908 |
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
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Electrostatic Boundary Conditions and (Electro)chemical Interface Stability. (deposited 09 Feb 2024 14:00)
- Electrostatic boundary conditions and (electro)chemical interface stability. (deposited 12 Feb 2024 07:34) [Gegenwärtig angezeigt]
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