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Investigations on Pd/In-based high temperature stable ohmic contacts on GaAs by x-ray reflectometry and diffractometry

Pirling, Thilo ; Fricke, ; Schüßler, ; Lee, ; Fuess, H. ; Hartnagel, H. L. :
Investigations on Pd/In-based high temperature stable ohmic contacts on GaAs by x-ray reflectometry and diffractometry.
In: Materials science and engineering. B 29 (1995), S. 70-73
[Artikel], (1995)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1995
Autor(en): Pirling, Thilo ; Fricke, ; Schüßler, ; Lee, ; Fuess, H. ; Hartnagel, H. L.
Titel: Investigations on Pd/In-based high temperature stable ohmic contacts on GaAs by x-ray reflectometry and diffractometry
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Materials science and engineering. B 29 (1995), S. 70-73
Fachbereich(e)/-gebiet(e): FB Materialwissenschaft (aufgegangen in FB11)
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:23
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