Pirling, Thilo ; Fricke, ; Schüßler, ; Lee, ; Fuess, H. ; Hartnagel, H. L. (1995)
Investigations on Pd/In-based high temperature stable ohmic contacts on GaAs by x-ray reflectometry and diffractometry.
In: Materials science and engineering. B 29 (1995), S. 70-73
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1995 |
| Autor(en): | Pirling, Thilo ; Fricke, ; Schüßler, ; Lee, ; Fuess, H. ; Hartnagel, H. L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Investigations on Pd/In-based high temperature stable ohmic contacts on GaAs by x-ray reflectometry and diffractometry |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1995 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Materials science and engineering. B 29 (1995), S. 70-73 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften) |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:23 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:32 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum