Grajal, J. ; Krozer, V. ; Schuessler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, Hans L. (1997)
Application of semiconductor interface modelling to reliability characterisation.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 1997 |
| Autor(en): | Grajal, J. ; Krozer, V. ; Schuessler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Application of semiconductor interface modelling to reliability characterisation |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1997 |
| Reihe: | WOCSDICE'97 <1997, Scheveningen, NL>: Proceedings |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:22 |
| Letzte Änderung: | 11 Dez 2019 07:29 |
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