Berberich, Stephan ; Godignon, P. ; Morvan, E. ; Fonseca, L. ; Millan, J. ; Hartnagel, H. L. (1999)
Electrical characterisation of Si3N4/SiO2 double layers on p-type 6H-SiC.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 1999 |
| Autor(en): | Berberich, Stephan ; Godignon, P. ; Morvan, E. ; Fonseca, L. ; Millan, J. ; Hartnagel, H. L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Electrical characterisation of Si3N4/SiO2 double layers on p-type 6H-SiC |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1999 |
| Reihe: | Workshop on Dielectrics <10, 1999, Barcelona>: Proceedings |
| Zusätzliche Informationen: | Zeichendarst. im Sachtitel teilw. nicht vorlagegemäß wiedergegeben |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:22 |
| Letzte Änderung: | 14 Feb 2019 10:47 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum