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Application of transmission line pulses for reliability characterisation of high temperature devices

Krozer, Viktor ; Brandt, Michael ; Schüßler, Martin ; Hartnagel, Hans L. (1998)
Application of transmission line pulses for reliability characterisation of high temperature devices.
4th International High Temperature Electronics Conference (HiTEC '98). Albuquerque, NM, USA (14.06.1998-18.06.1998)
doi: 10.1109/HITEC.1998.676775
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1998
Autor(en): Krozer, Viktor ; Brandt, Michael ; Schüßler, Martin ; Hartnagel, Hans L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Application of transmission line pulses for reliability characterisation of high temperature devices
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1998
Ort: New York City, NY
Verlag: IEEE
Buchtitel: 1998 Fourth International High Temperature Electronics Conference (HITEC) : Albuquerque, New Mexico, USA, June 14 - 18, 1998
Veranstaltungstitel: 4th International High Temperature Electronics Conference (HiTEC '98)
Veranstaltungsort: Albuquerque, NM, USA
Veranstaltungsdatum: 14.06.1998-18.06.1998
DOI: 10.1109/HITEC.1998.676775
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:22
Letzte Änderung: 12 Dez 2023 11:20
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