Kleebe, H.-J. ; Hoffmann, M. J. ; Rühle, M. (1992)
Influence of Secondary Phase Chemistry on Grain-Boundary Film Thickness in Silicon-Nitride.
In: International Journal of Materials Research = Zeitschrift für Metallkunde, 83 (8)
doi: 10.1515/ijmr-1992-830808
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1992 |
| Autor(en): | Kleebe, H.-J. ; Hoffmann, M. J. ; Rühle, M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Influence of Secondary Phase Chemistry on Grain-Boundary Film Thickness in Silicon-Nitride |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1992 |
| Verlag: | de Gruyter |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | International Journal of Materials Research = Zeitschrift für Metallkunde |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 83 |
| (Heft-)Nummer: | 8 |
| DOI: | 10.1515/ijmr-1992-830808 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Geomaterialwissenschaft |
| Hinterlegungsdatum: | 17 Nov 2021 12:07 |
| Letzte Änderung: | 17 Nov 2021 12:07 |
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