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Statistical-Analysis of the Intergranular Film Thickness In Silicon-Nitride Ceramics

Kleebe, H.-J. ; Cinibulk, M. K. ; Cannon, R. M. ; Rühle, M. (2005)
Statistical-Analysis of the Intergranular Film Thickness In Silicon-Nitride Ceramics.
In: Journal of the American Ceramic Society, 76 (8)
doi: 10.1111/j.1151-2916.1993.tb08319.x
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2005
Autor(en): Kleebe, H.-J. ; Cinibulk, M. K. ; Cannon, R. M. ; Rühle, M.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Statistical-Analysis of the Intergranular Film Thickness In Silicon-Nitride Ceramics
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2005
Verlag: ACS
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of the American Ceramic Society
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 76
(Heft-)Nummer: 8
DOI: 10.1111/j.1151-2916.1993.tb08319.x
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Geomaterialwissenschaft
Hinterlegungsdatum: 17 Nov 2021 12:07
Letzte Änderung: 17 Nov 2021 12:07
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