Kizler, P. ; Kleebe, H.-J. ; Aldinger, F. ; Ruhle, M. (1997)
Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) study of secondary phases in Yb2O3-doped Si3N4 ceramics.
In: Journal of Materials Science, 32 (2)
doi: 10.1023/a:1018501316195
Artikel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 1997 |
Autor(en): | Kizler, P. ; Kleebe, H.-J. ; Aldinger, F. ; Ruhle, M. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) study of secondary phases in Yb2O3-doped Si3N4 ceramics |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 1997 |
Verlag: | Springer Nature |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Journal of Materials Science |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 32 |
(Heft-)Nummer: | 2 |
DOI: | 10.1023/a:1018501316195 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Geomaterialwissenschaft |
Hinterlegungsdatum: | 17 Nov 2021 12:07 |
Letzte Änderung: | 17 Nov 2021 12:07 |
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