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Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) study of secondary phases in Yb2O3-doped Si3N4 ceramics

Kizler, P. ; Kleebe, H.-J. ; Aldinger, F. ; Ruhle, M. (1997)
Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) study of secondary phases in Yb2O3-doped Si3N4 ceramics.
In: Journal of Materials Science, 32 (2)
doi: 10.1023/a:1018501316195
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1997
Autor(en): Kizler, P. ; Kleebe, H.-J. ; Aldinger, F. ; Ruhle, M.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) study of secondary phases in Yb2O3-doped Si3N4 ceramics
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1997
Verlag: Springer Nature
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of Materials Science
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 32
(Heft-)Nummer: 2
DOI: 10.1023/a:1018501316195
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Geomaterialwissenschaft
Hinterlegungsdatum: 17 Nov 2021 12:07
Letzte Änderung: 17 Nov 2021 12:07
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