Bieker, Johannes ; Schlaak, Helmut F. ; Wilfert, Stefan ; Lawrowski, Robert ; Hausladen, Matthias ; Schreiner, Rupert (2019)
Development of FE-based electron sources for XHV ion gauges in cryogenic vacuum environments.
32nd International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC 2019). Cincinnati, USA (22.07.2019-26.07.2019)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2019 |
| Autor(en): | Bieker, Johannes ; Schlaak, Helmut F. ; Wilfert, Stefan ; Lawrowski, Robert ; Hausladen, Matthias ; Schreiner, Rupert |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Development of FE-based electron sources for XHV ion gauges in cryogenic vacuum environments |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 22 Juli 2019 |
| Veranstaltungstitel: | 32nd International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC 2019) |
| Veranstaltungsort: | Cincinnati, USA |
| Veranstaltungsdatum: | 22.07.2019-26.07.2019 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrotechnik und Elektromechanische Systeme |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2020 08:25 |
| Letzte Änderung: | 20 Nov 2020 08:25 |
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