Richard, Marie-Ingrid ; Fernández, Sara ; Eymery, Joël ; Hofmann, Jan P. ; Gao, Lu ; Carnis, Jérôme ; Labat, Stéphane ; Favre-Nicolin, Vincent ; Hensen, Emiel J. M. ; Thomas, Olivier ; Schülli, Tobias U. ; Leake, Steven J. (2018)
Crystallographic orientation of facets and planar defects in functional nanostructures elucidated by nano-focused coherent diffractive X-ray imaging.
In: Nanoscale, 10 (10)
doi: 10.1039/C7NR07990G
Artikel, Bibliographie
URL / URN: https://doi.org/10.1039/C7NR07990G
Typ des Eintrags: | Artikel |
---|---|
Erschienen: | 2018 |
Autor(en): | Richard, Marie-Ingrid ; Fernández, Sara ; Eymery, Joël ; Hofmann, Jan P. ; Gao, Lu ; Carnis, Jérôme ; Labat, Stéphane ; Favre-Nicolin, Vincent ; Hensen, Emiel J. M. ; Thomas, Olivier ; Schülli, Tobias U. ; Leake, Steven J. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Crystallographic orientation of facets and planar defects in functional nanostructures elucidated by nano-focused coherent diffractive X-ray imaging |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 16 Januar 2018 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Nanoscale |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 10 |
(Heft-)Nummer: | 10 |
DOI: | 10.1039/C7NR07990G |
URL / URN: | https://doi.org/10.1039/C7NR07990G |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
Hinterlegungsdatum: | 07 Jul 2020 05:32 |
Letzte Änderung: | 22 Jan 2021 10:19 |
PPN: | |
Export: | |
Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen |