Faridi, F. R. ; Preu, S. (2020)
Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer.
2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz).
doi: 10.25534/tuprints-00011364
Konferenzveröffentlichung, Zweitveröffentlichung, Postprint
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URL / URN: https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/11364
Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
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Erschienen: | 2020 |
Autor(en): | Faridi, F. R. ; Preu, S. |
Art des Eintrags: | Zweitveröffentlichung |
Titel: | Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | Januar 2020 |
Ort: | Paris, France |
Publikationsdatum der Erstveröffentlichung: | 2019 |
Veranstaltungstitel: | 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz) |
DOI: | 10.25534/tuprints-00011364 |
URL / URN: | https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/11364 |
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Herkunft: | Zweitveröffentlichung |
Freie Schlagworte: | spectrometers;terahertz spectroscopy;terahertz isolator;reflection geometry;terahertz time domain spectroscopy;THz TDS;transmission geometry;1.5 port vector spectrometer;Isolators;Loss measurement;Insertion loss;Reflection;Frequency measurement;Time-domain analysis;Quantum cascade lasers |
Status: | Postprint |
URN: | urn:nbn:de:tuda-tuprints-113644 |
Zusätzliche Informationen: | Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) funding project 278381540 (REPHCON) |
Sachgruppe der Dewey Dezimalklassifikatin (DDC): | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 600 Technik 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > THz Bauelemente und THz Systeme |
Hinterlegungsdatum: | 26 Jan 2020 20:57 |
Letzte Änderung: | 03 Jul 2024 09:30 |
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
- Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer. (deposited 26 Jan 2020 20:57) [Gegenwärtig angezeigt]
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