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Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer

Faridi, Fahd R. ; Preu, Sascha (2019)
Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer.
44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz). Paris, France (1-6 Sept. 2019)
doi: 10.1109/IRMMW-THz.2019.8873976
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

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Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2019
Autor(en): Faridi, Fahd R. ; Preu, Sascha
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: September 2019
Veranstaltungstitel: 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
Veranstaltungsort: Paris, France
Veranstaltungsdatum: 1-6 Sept. 2019
DOI: 10.1109/IRMMW-THz.2019.8873976
URL / URN: https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2019.8873976
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP)
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > THz Bauelemente und THz Systeme
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > Terahertz Systems
Hinterlegungsdatum: 25 Okt 2019 10:04
Letzte Änderung: 10 Dez 2021 07:13
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags

  • Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer. (deposited 25 Okt 2019 10:04) [Gegenwärtig angezeigt]
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