Yue, Yao ; Feng, Lihong ; Benner, Peter ; Pulch, Roland ; Schöps, Sebastian (2019)
Reduced Models and Uncertainty Quantification.
In: Nanoelectronic Coupled Problems Solutions
doi: 10.1007/978-3-030-30726-4_15
Buchkapitel, Bibliographie
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen |