Bieker, Johannes ; Forbes, Richard G. ; Wilfert, Stefan ; Schlaak, Helmut F. (2019)
Simulation-Based Model of Randomly Distributed Large-Area Field Electron Emitters.
In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, 2019, 7
doi: 10.1109/JEDS.2019.2940086
Artikel, Zweitveröffentlichung
URL / URN: https://doi.org/10.1109/JEDS.2019.2940086
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2019 |
| Autor(en): | Bieker, Johannes ; Forbes, Richard G. ; Wilfert, Stefan ; Schlaak, Helmut F. |
| Art des Eintrags: | Zweitveröffentlichung |
| Titel: | Simulation-Based Model of Randomly Distributed Large-Area Field Electron Emitters |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2019 |
| Publikationsdatum der Erstveröffentlichung: | 2019 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | IEEE Journal of the Electron Devices Society |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 7 |
| DOI: | 10.1109/JEDS.2019.2940086 |
| URL / URN: | https://doi.org/10.1109/JEDS.2019.2940086 |
| Herkunft: | Zweitveröffentlichung aus gefördertem Golden Open Access |
| URN: | urn:nbn:de:tuda-tuprints-92048 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrotechnik und Elektromechanische Systeme |
| Hinterlegungsdatum: | 27 Okt 2019 20:55 |
| Letzte Änderung: | 09 Jan 2024 15:10 |
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