Bieker, Johannes ; Forbes, Richard G. ; Wilfert, Stefan ; Schlaak, Helmut F. (2019)
Simulation-Based Model of Randomly Distributed Large-Area Field Electron Emitters.
In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, 2019, 7
doi: 10.1109/JEDS.2019.2940086
Artikel, Zweitveröffentlichung, Verlagsversion
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URL / URN: https://doi.org/10.1109/JEDS.2019.2940086
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2019 |
Autor(en): | Bieker, Johannes ; Forbes, Richard G. ; Wilfert, Stefan ; Schlaak, Helmut F. |
Art des Eintrags: | Zweitveröffentlichung |
Titel: | Simulation-Based Model of Randomly Distributed Large-Area Field Electron Emitters |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 2019 |
Publikationsdatum der Erstveröffentlichung: | 2019 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | IEEE Journal of the Electron Devices Society |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 7 |
DOI: | 10.1109/JEDS.2019.2940086 |
URL / URN: | https://doi.org/10.1109/JEDS.2019.2940086 |
Herkunft: | Zweitveröffentlichung aus gefördertem Golden Open Access |
Status: | Verlagsversion |
URN: | urn:nbn:de:tuda-tuprints-92048 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrotechnik und Elektromechanische Systeme |
Hinterlegungsdatum: | 27 Okt 2019 20:55 |
Letzte Änderung: | 09 Jan 2024 15:10 |
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- Simulation-Based Model of Randomly Distributed Large-Area Field Electron Emitters. (deposited 27 Okt 2019 20:55) [Gegenwärtig angezeigt]
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