Faridi, Fahd R. ; Preu, Sascha (2019)
Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer.
44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz). Paris, France (01.09.2019-06.09.2019)
doi: 10.1109/IRMMW-THz.2019.8873976
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags:	Konferenzveröffentlichung
Erschienen:	2019
Autor(en):	Faridi, Fahd R. ; Preu, Sascha
Art des Eintrags:	Bibliographie
Titel:	Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer
Sprache:	Englisch
Publikationsjahr:	September 2019
Ort:	Paris
Veranstaltungstitel:	44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
Veranstaltungsort:	Paris, France
Veranstaltungsdatum:	01.09.2019-06.09.2019
DOI:	10.1109/IRMMW-THz.2019.8873976
URL / URN:	https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2019.8873976
Zugehörige Links:	TUprints Zweitveröffentlichung
Fachbereich(e)/-gebiet(e):	18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > THz Bauelemente und THz Systeme 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > Terahertz Systems
Hinterlegungsdatum:	25 Okt 2019 10:04
Letzte Änderung:	03 Jul 2024 09:30
PPN:
Export:	MODSJSONSimple MetadataASCII CitationEP3 XMLAtomDublin CoreMultiline CSVEndNoteRDF+XMLIBW_RDABibTeXT2T_XMLHTML Citation
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags

• Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer. (deposited 26 Jan 2020 20:57)
  • Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer. (deposited 25 Okt 2019 10:04) [Gegenwärtig angezeigt]

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