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Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer

Faridi, F. R. ; Preu, S. (2020)
Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer.
2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz).
doi: 10.25534/tuprints-00011364
Konferenzveröffentlichung, Zweitveröffentlichung

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2020
Autor(en): Faridi, F. R. ; Preu, S.
Art des Eintrags: Zweitveröffentlichung
Titel: Characterization of a Terahertz Isolator using a 1.5 Port Vector Spectrometer
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: Januar 2020
Ort: Paris, France
Publikationsdatum der Erstveröffentlichung: 2019
Veranstaltungstitel: 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
DOI: 10.25534/tuprints-00011364
URL / URN: https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/11364
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Herkunft: Zweitveröffentlichung
Freie Schlagworte: spectrometers;terahertz spectroscopy;terahertz isolator;reflection geometry;terahertz time domain spectroscopy;THz TDS;transmission geometry;1.5 port vector spectrometer;Isolators;Loss measurement;Insertion loss;Reflection;Frequency measurement;Time-domain analysis;Quantum cascade lasers
URN: urn:nbn:de:tuda-tuprints-113644
Zusätzliche Informationen:

Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) funding project 278381540 (REPHCON)

Sachgruppe der Dewey Dezimalklassifikatin (DDC): 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 600 Technik
600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > THz Bauelemente und THz Systeme
Hinterlegungsdatum: 26 Jan 2020 20:57
Letzte Änderung: 26 Jan 2020 20:57
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