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Electrical Properties of Low-Temperature Processed Sn-Doped In2O3 Thin Films: The Role of Microstructure and Oxygen Content and the Potential of Defect Modulation Doping

Deyu, Getnet Kacha ; Hunka, Jonas ; Roussel, Hervé ; Brötz, Joachim ; Bellet, Daniel ; Klein, Andreas (2019)
Electrical Properties of Low-Temperature Processed Sn-Doped In2O3 Thin Films: The Role of Microstructure and Oxygen Content and the Potential of Defect Modulation Doping.
In: Materials, 12 (14)
doi: 10.3390/ma12142232
Artikel, Bibliographie

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Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2019
Autor(en): Deyu, Getnet Kacha ; Hunka, Jonas ; Roussel, Hervé ; Brötz, Joachim ; Bellet, Daniel ; Klein, Andreas
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Electrical Properties of Low-Temperature Processed Sn-Doped In2O3 Thin Films: The Role of Microstructure and Oxygen Content and the Potential of Defect Modulation Doping
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2019
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Materials
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 12
(Heft-)Nummer: 14
DOI: 10.3390/ma12142232
Zugehörige Links:
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenstruktur von Materialien
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung
Hinterlegungsdatum: 22 Jul 2019 05:49
Letzte Änderung: 03 Jul 2024 09:43
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