Deyu, Getnet Kacha ; Hunka, Jonas ; Roussel, Hervé ; Brötz, Joachim ; Bellet, Daniel ; Klein, Andreas (2019)
Electrical Properties of Low-Temperature Processed Sn-Doped In2O3 Thin Films: The Role of Microstructure and Oxygen Content and the Potential of Defect Modulation Doping.
In: Materials, 12 (14)
doi: 10.3390/ma12142232
Artikel, Bibliographie
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Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2019 |
Autor(en): | Deyu, Getnet Kacha ; Hunka, Jonas ; Roussel, Hervé ; Brötz, Joachim ; Bellet, Daniel ; Klein, Andreas |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Electrical Properties of Low-Temperature Processed Sn-Doped In2O3 Thin Films: The Role of Microstructure and Oxygen Content and the Potential of Defect Modulation Doping |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 2019 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Materials |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 12 |
(Heft-)Nummer: | 14 |
DOI: | 10.3390/ma12142232 |
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Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenstruktur von Materialien 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung |
Hinterlegungsdatum: | 22 Jul 2019 05:49 |
Letzte Änderung: | 03 Jul 2024 09:43 |
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
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Electrical Properties of Low-Temperature Processed Sn-Doped In₂O₃ Thin Films: The Role of Microstructure and Oxygen Content and the Potential of Defect Modulation Doping. (deposited 03 Nov 2019 20:57)
- Electrical Properties of Low-Temperature Processed Sn-Doped In2O3 Thin Films: The Role of Microstructure and Oxygen Content and the Potential of Defect Modulation Doping. (deposited 22 Jul 2019 05:49) [Gegenwärtig angezeigt]
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