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Online analysis of debug trace data for embedded systems

Decker, Norman ; Dreyer, Boris ; Gottschling, Philip ; Hochberger, Christian ; Lange, Alexander ; Leucker, Martin ; Scheffel, Torben ; Wegener, Simon ; Weiss, Alexander (2018)
Online analysis of debug trace data for embedded systems.
doi: 10.23919/DATE.2018.8342124
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2018
Autor(en): Decker, Norman ; Dreyer, Boris ; Gottschling, Philip ; Hochberger, Christian ; Lange, Alexander ; Leucker, Martin ; Scheffel, Torben ; Wegener, Simon ; Weiss, Alexander
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Online analysis of debug trace data for embedded systems
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 19 März 2018
Buchtitel: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2018
DOI: 10.23919/DATE.2018.8342124
URL / URN: https://ieeexplore.ieee.org/document/8342124/
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Rechnersysteme
Hinterlegungsdatum: 30 Mai 2018 09:04
Letzte Änderung: 30 Mai 2018 09:04
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