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Braun, Johannes ; Horsch, Moritz ; Wiesmaier, Alexander
Hrsg.: Ryan, Mark ; Smyth, Ben ; Wang, Guilin (2012)
iPIN and mTAN for secure eID applications.
Hangzhou, China
doi: 10.1007/978-3-642-29101-2_18
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
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