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1998
Pikin, S. ; Osipov, M. ; Biradar, A. ; Beresnev, L. ; Haase, W. (1998)
Thickness dependence of polarization and response characteristics in thin FLC films.
In: Ferroelectrics, 212 (1)
doi: 10.1080/00150199808217348
Artikel, Bibliographie