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Lunardi, S. ; Matsushita, M. ; Takeuchi, S. ; Aoi, N. ; Doornenbal, P. ; Lee, J. ; Li, K. ; Motobayashi, T. ; Scheit, H. ; Steppenbeck, D. ; Wang, H. ; Baba, H. ; Bazin, D. ; Càceres, L. ; Crawford, H. ; Fallon, P. ; Gernhäuser, R. ; Gibelin, J. ; Go, S. ; Grévy, S. ; Hinke, C. ; Hoffman, C. R. ; Hughes, R. ; Ideguchi, E. ; Ieki, K. ; Jenkins, D. ; Kobayashi, N. ; Kondo, Y. ; Krücken, R. ; Le Bleis, T. ; Lee, G. ; Matta, A. ; Michimasa, S. ; Nakamura, T. ; Ota, S. ; Petri, Marina ; Sako, T. ; Sakurai, H. ; Shimoura, S. ; Steiger, K. ; Takahashi, K. ; Takechi, M. ; Togano, Y. ; Winkler, R. ; Yoneda, K. ; Bizzeti, P. G. ; Bucci, C. ; Chiari, M. ; Dainese, A. ; Di Nezza, P. ; Menegazzo, R. ; Nannini, A. ; Signorini, C. ; Valiente-Dobon, J. J. (2014):
In-beam γ-ray spectroscopy of 38,40,42Si.
In: EPJ Web of Conferences, 66, pp. 02070. ISSN 2100-014X,
[Article]

Takeuchi, S. ; Matsushita, M. ; Aoi, N. ; Doornenbal, P. ; Li, K. ; Motobayashi, T. ; Scheit, H. ; Steppenbeck, D. ; Wang, H. ; Baba, H. ; Bazin, D. ; Càceres, L. ; Crawford, H. ; Fallon, P. ; Gernhäuser, R. ; Gibelin, J. ; Go, S. ; Grévy, S. ; Hinke, C. ; Hoffman, C. ; Hughes, R. ; Ideguchi, E. ; Jenkins, D. ; Kobayashi, N. ; Kondo, Y. ; Krücken, R. ; Le Bleis, T. ; Lee, J. ; Lee, G. ; Matta, A. ; Michimasa, S. ; Nakamura, T. ; Ota, S. ; Petri, Marina ; Sako, T. ; Sakurai, H. ; Shimoura, S. ; Steiger, K. ; Takahashi, K. ; Takechi, M. ; Togano, Y. ; Winkler, R. ; Yoneda, K. (2012):
Well Developed Deformation in ^{42}Si.
In: Physical Review Letters, 109 (18), ISSN 0031-9007,
[Article]

Petri, Marina ; Fallon, P. ; Macchiavelli, A. ; Paschalis, S. ; Starosta, K. ; Baugher, T. ; Bazin, D. ; Cartegni, L. ; Clark, R. ; Crawford, H. ; Cromaz, M. ; Dewald, A. ; Gade, A. ; Grinyer, G. ; Gros, S. ; Hackstein, M. ; Jeppesen, H. ; Lee, I. ; McDaniel, S. ; Miller, D. ; Rajabali, M. ; Ratkiewicz, A. ; Rother, W. ; Voss, P. ; Walsh, K. ; Weisshaar, D. ; Wiedeking, M. ; Brown, B. (2011):
Lifetime Measurement of the 2_{1}^{+} State in ^{20}C.
In: Physical Review Letters, 107 (10), ISSN 0031-9007,
[Article]

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