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Verfahren und Vorrichtung zur meßtechnischen Erfassung einer Schichtdicke eines Beschichtungsmediums

Fetter, Jan ; Sauer, Hans Martin ; Dörsam, Edgar ; Bartonitz, Wolfgang (2009)
Verfahren und Vorrichtung zur meßtechnischen Erfassung einer Schichtdicke eines Beschichtungsmediums.
Norm, patent, standard, Bibliographie

Item Type: Norm, patent, standard
Erschienen: 2009
Creators: Fetter, Jan ; Sauer, Hans Martin ; Dörsam, Edgar ; Bartonitz, Wolfgang
Type of entry: Bibliographie
Title: Verfahren und Vorrichtung zur meßtechnischen Erfassung einer Schichtdicke eines Beschichtungsmediums
Language: German
Date: 10 July 2009
Patent number: DE 10 2009 032 529 B4
Divisions: 16 Department of Mechanical Engineering
16 Department of Mechanical Engineering > Institute of Printing Science and Technology (IDD)
Date Deposited: 31 Jan 2011 16:43
Last Modified: 14 Dec 2020 08:49
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