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The NAND-gate: a benchmark test for the numerical solution of digital circuits

Günther, Michael ; Rentrop, ; Rentrop, (1996)
The NAND-gate: a benchmark test for the numerical solution of digital circuits.
In: Neue Anwendungen theoretischer Konzepte in der Elektrotechnik mit Gedenksitzung zum 50. Todestag von Wilhelm Cauer. Hrsg.: W. Mathis (u.a.) S. 27-33, Edition: Berlin (u.a.): VDE-Verl., 1996
Book Section

Item Type: Book Section
Erschienen: 1996
Creators: Günther, Michael ; Rentrop, ; Rentrop,
Type of entry: Bibliographie
Title: The NAND-gate: a benchmark test for the numerical solution of digital circuits
Language: English
Date: 1 January 1996
Place of Publication: Berlin (u.a.)
Publisher: VDE-Verl
Book Title: Neue Anwendungen theoretischer Konzepte in der Elektrotechnik mit Gedenksitzung zum 50. Todestag von Wilhelm Cauer. Hrsg.: W. Mathis (u.a.) S. 27-33
Edition: Berlin (u.a.): VDE-Verl., 1996
Divisions: 04 Department of Mathematics
Date Deposited: 19 Nov 2008 15:59
Last Modified: 05 Mar 2013 08:34
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