Pirling, Thilo ; Fricke, K. ; Schüßler, M. ; Lee, W. Y. ; Fuess, H. ; Hartnagel, H. L. (1995)
Investigations on Pd/In-based high temperature stable ohmic contacts on GaAs by x-ray reflectometry and diffractometry.
In: Materials Science and Engineering: B, 29
doi: 10.1016/0921-5107(94)04032-Y
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1995 |
| Autor(en): | Pirling, Thilo ; Fricke, K. ; Schüßler, M. ; Lee, W. Y. ; Fuess, H. ; Hartnagel, H. L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Investigations on Pd/In-based high temperature stable ohmic contacts on GaAs by x-ray reflectometry and diffractometry |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1995 |
| Verlag: | Elsevier |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Materials Science and Engineering: B |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 29 |
| DOI: | 10.1016/0921-5107(94)04032-Y |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften) |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:23 |
| Letzte Änderung: | 22 Jul 2024 06:37 |
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