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OS Driver Test Effort Reduction via Operational Profiling

Sarbu, Constantin ; Winter, Stefan ; Nagappan, Nachiappan ; Suri, Neeraj (2009)
OS Driver Test Effort Reduction via Operational Profiling.
International Symposium on Software Reliability Engineering (ISSRE). Bengaluru-Mysuru, India (16.11.2009-19.11.2009)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2009
Autor(en): Sarbu, Constantin ; Winter, Stefan ; Nagappan, Nachiappan ; Suri, Neeraj
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: OS Driver Test Effort Reduction via Operational Profiling
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2009
Ort: Piscataway, NJ
Verlag: IEEE
Buchtitel: International Symposium on Software Reliability Engineering (ISSRE) : Abstracts
Veranstaltungstitel: International Symposium on Software Reliability Engineering (ISSRE)
Veranstaltungsort: Bengaluru-Mysuru, India
Veranstaltungsdatum: 16.11.2009-19.11.2009
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 20 Fachbereich Informatik
20 Fachbereich Informatik > Zuverlässige Eingebettete Softwaresysteme
Hinterlegungsdatum: 30 Dez 2016 21:41
Letzte Änderung: 01 Dez 2020 14:47
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