Pikin, S. ; Osipov, M. ; Biradar, A. ; Beresnev, L. ; Haase, W. (1998)
Thickness dependence of polarization and response characteristics in thin FLC films.
In: Ferroelectrics, 212 (1)
doi: 10.1080/00150199808217348
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1998 |
| Autor(en): | Pikin, S. ; Osipov, M. ; Biradar, A. ; Beresnev, L. ; Haase, W. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Thickness dependence of polarization and response characteristics in thin FLC films |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1998 |
| Verlag: | Taylor & Francis |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Ferroelectrics |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 212 |
| (Heft-)Nummer: | 1 |
| DOI: | 10.1080/00150199808217348 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 07 Fachbereich Chemie |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:19 |
| Letzte Änderung: | 19 Apr 2024 09:36 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum