Kazimierski, P. ; Lehmberg, (1998)
Electrical conductivity measurements with submicrometer lateral resolution.
In: Surface & coatings technology. 98 (1998), S. 939-943
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1998 |
| Autor(en): | Kazimierski, P. ; Lehmberg, |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Electrical conductivity measurements with submicrometer lateral resolution |
| Sprache: | Deutsch |
| Publikationsjahr: | 1998 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Surface & coatings technology. 98 (1998), S. 939-943 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 05 Fachbereich Physik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:19 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:29 |
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