Malhotra, Harman ; Lakshminarayanan, Sreekesh ; Hofmann, Klaus (2017)
Modelling the Impact of PCB traces on the Performance of an RF Amplifier in an ASIC with the help of CST-Studio Full Field EM Simulations and Cadence Virtuoso Co-Simulations.
CST European User Conference. Darmstadt
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2017 |
| Autor(en): | Malhotra, Harman ; Lakshminarayanan, Sreekesh ; Hofmann, Klaus |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Modelling the Impact of PCB traces on the Performance of an RF Amplifier in an ASIC with the help of CST-Studio Full Field EM Simulations and Cadence Virtuoso Co-Simulations |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 26 April 2017 |
| Veranstaltungstitel: | CST European User Conference |
| Veranstaltungsort: | Darmstadt |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Integrierte Elektronische Systeme (IES) |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Apr 2018 13:46 |
| Letzte Änderung: | 15 Aug 2024 09:39 |
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