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Formation and dielectric properties of polyelectrolyte multilayers studied by a silicon-on-insulator based thin film resistor

Neff, P. A. ; Wunderlich, B. K. ; von Klitzing, R. ; Bausch, A. R. :
Formation and dielectric properties of polyelectrolyte multilayers studied by a silicon-on-insulator based thin film resistor.
[Online-Edition: http://dx.doi.org/10.1021/la063632t]
In: Langmuir, 23 (7) pp. 4048-4052. ISSN 0743-7463
[Artikel], (2007)

Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1021/la063632t
Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2007
Autor(en): Neff, P. A. ; Wunderlich, B. K. ; von Klitzing, R. ; Bausch, A. R.
Titel: Formation and dielectric properties of polyelectrolyte multilayers studied by a silicon-on-insulator based thin film resistor
Sprache: Deutsch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Langmuir
Band: 23
(Heft-)Nummer: 7
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 05 Fachbereich Physik > Institut für Festkörperphysik
05 Fachbereich Physik
Hinterlegungsdatum: 28 Apr 2017 10:58
Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1021/la063632t
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